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BI4201-MOD 模块老化系统
- 分类：模块器件老化测试系统
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2019-08-05 15:39
- 访问量：12
【概要描述】BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境，对光器件（例如VCSELs, PIN 或APD）以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板（测试夹具）、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库，系统软件可以支持上传或下载老化数据，利用系统集成的“Quick Check”功能，可以非常方便的准实
BI4201-MOD 模块老化系统
【概要描述】BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境，对光器件（例如VCSELs, PIN 或APD）以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板（测试夹具）、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库，系统软件可以支持上传或下载老化数据，利用系统集成的“Quick Check”功能，可以非常方便的准实
- 分类：模块器件老化测试系统
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- 发布时间：2019-08-05 15:39
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主要特点：
集成化系统解决方案使得本系统无论针对高端/低端器件及模块老化都具有极高的性价比；
本系统可以集成温箱、电源、控制电路、LIV测试系统及基于数据库的系统软件；
标准系统支持同时测量384 pcs (O/E器件系统) 或 224 pcs (100G 收发模块系统)，同时系统具有极大的灵活度，可以根据用户空间和具体要求定制化；
具有标准的或用户自定义的夹具/老化板定制开发， 以最大化发挥系统的灵活性；
清晰直观及灵活有好的用户使用界面，可以方便查询模块器件的信息机状态；
系统支持可编程的告警状态及提醒功能；
图形化显示器件性能老化前后的劣化；
所有模块或器件支持特定参数设置:驱动电流、温度、老化时间等等；
全部结果支持数据库记录和导出；
支持LIV 测试(可选件)；
支持LIV 扫描及单点测试。
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