解决方案
我们用心、努力做好每一件事,满怀信心迎接每一次挑战
BI4201-MOD 模块老化系统
- 分类:模块器件老化测试系统
- 作者:
- 来源:
- 发布时间:2019-08-05 15:39
- 访问量:12
【概要描述】BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实
BI4201-MOD 模块老化系统
【概要描述】BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实
- 分类:模块器件老化测试系统
- 作者:
- 来源:
- 发布时间:2019-08-05 15:39
- 访问量:12
详情
主要特点:
集成化系统解决方案使得本系统无论针对高端/低端器件及模块老化都具有极高的性价比;
本系统可以集成温箱、电源、控制电路、LIV测试系统及基于数据库的系统软件;
标准系统支持同时测量384 pcs (O/E器件系统) 或 224 pcs (100G 收发模块系统),同时系统具有极大的灵活度,可以根据用户空间和具体要求定制化;
具有标准的或用户自定义的夹具/老化板定制开发, 以最大化发挥系统的灵活性;
清晰直观及灵活有好的用户使用界面,可以方便查询模块器件的信息机状态;
系统支持可编程的告警状态及提醒功能;
图形化显示器件性能老化前后的劣化;
所有模块或器件支持特定参数设置:驱动电流、温度、老化时间等等;
全部结果支持数据库记录和导出;
支持LIV 测试(可选件);
支持LIV 扫描及单点测试。
扫二维码用手机看
上一个:
BI4201-OE OE 老化系统
下一个:
BI4201-LIV LIV 测试系统
上一个:
BI4201-OE OE 老化系统
下一个:
BI4201-LIV LIV 测试系统