BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip，Bar条，裸Die 和CoC器件老化系统，采用系统框架及分离抽屉形式，支持独立实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip，Bar条，裸Die 和CoC器件老化系统，采用系统框架及分离抽屉形式，支持独立实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip，Bar条，裸Die 和CoC器件老化系统，采用系统框架及分离抽屉形式，支持独立实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
