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解决方案

BI6201-eCal/TCal 校准模块

BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip,Bar条,裸Die 和CoC器件老化系统,采用系统框架及分离抽屉形式,支持独立实时可控的老化温度环境,专门设计的不同种类测试夹具,适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
BI6201-LIV LIV 测试系统

BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip,Bar条,裸Die 和CoC器件老化系统,采用系统框架及分离抽屉形式,支持独立实时可控的老化温度环境,专门设计的不同种类测试夹具,适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
BI6201-CoC 老化系统

BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip,Bar条,裸Die 和CoC器件老化系统,采用系统框架及分离抽屉形式,支持独立实时可控的老化温度环境,专门设计的不同种类测试夹具,适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
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