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解决方案

BI4201-OE OE 老化系统

BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实
BI4201-MOD 模块老化系统

BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实
BI4201-LIV LIV 测试系统

BI4201老化测试系统 可以提供实时监控的温度环境,对光器件(例如VCSELs, PIN 或APD)以及 收发模块进行老化测试。被测器件可以是封装好的器件或其它形式配合不同的测试夹具。BI4201由老化板(测试夹具)、温箱、电源、控制检测及风扇系统组成。每块老化板独立供电和监控。且系统支持数据库,系统软件可以支持上传或下载老化数据,利用系统集成的“Quick Check”功能,可以非常方便的准实
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