解决方案
我们用心、努力做好每一件事，满怀信心迎接每一次挑战
BI6201-eCal/TCal 校准模块
- 分类：CoC 老化系统
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2019-08-05 15:17
- 访问量：38
【概要描述】BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip，Bar条，裸Die 和CoC器件老化系统，采用系统框架及分离抽屉形式，支持独立实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
BI6201-eCal/TCal 校准模块
【概要描述】BI6201老化测试系统是专门针对激光器Chip，Bar条，裸Die 和CoC器件老化系统，采用系统框架及分离抽屉形式，支持独立实时可控的老化温度环境，专门设计的不同种类测试夹具，适合不同复杂程度、不同封装、不同尺寸的CoC器件大批量老化及测试。
- 分类：CoC 老化系统
- 作者：
- 来源：
- 发布时间：2019-08-05 15:17
- 访问量：38
详情
主要特点：
每个抽屉独立温度控制；
优化设计的热接触；
极佳的压力保护机制，使得应对各种不同突发条件，系统自身保护机制可以确保系统安全以及降低不必要的损失；
针对不同产品应用具有灵活的夹具配置；
结构紧凑，便于使用及维护；
集成的解决方案，使得系统在确保高品质的同时具有极好的性价比；
以极大的灵活度，支持同时多个器件的老化（最大单系统支持：1280pcs同时老化，具体数量根据用户要求及系统能力可以扩展）;
很灵活的使用：包括老化、寿命及验证性能；
标准测试夹具或用户定制化测试夹具开发；
简洁、明了的用户使用界面，可以清楚获知每个器件的状态信息及温度;
程控告警状态和提示显示；
支持恒流源/恒压源模式；
温度、电流、电压可以独立设置；
所有测试结果及测试状态、异常状况都记录到数据库；
支持数据库数据存储及查询溯源测试结果；
支持在线LIV 测试(可选件)或LIV 扫面测试。
扫二维码用手机看
上一个:
无
下一个:
BI6201-LIV LIV 测试系统
上一个:
无
下一个:
BI6201-LIV LIV 测试系统
