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eDH3101 高温高湿老化系统
联讯仪器eDH3101是一体化高温高湿双85老化系统,一个针对第三代半导体芯片可靠性测试的完整的双温高湿双85 Turn-key解决方案。 联讯仪器eDH3101主要适用于GaAs和GaN射频器件和功率器件的高温高湿试验。该系统已经在激光器芯片行业和第三代半导体两大行业通过大量认证,是一个可靠稳定的系统。 联讯仪器eDH3101由双85箱体和一个测试机架通过内部背板无缝连接而成,测试架中集成了高稳定性多通道老化电源,UPS,电脑等。大液晶可触控屏幕加上友好可配置的界面给客户操作人员提供了非常简便的易用性。
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