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COS老化系统-BI6206

产品描述
产品参数
技术支持

联讯仪器BI6206老化和寿命测试系统设计适 用于6000mA以下的芯片,bar条, COS和TO产 品。该系统提供稳定的控温环境测试光器件,被 测器件可以是已封装的器件,或是COC形式。不 同的器件只需要更换相应的老化夹具与老化抽 屉。系统可以显示器件的老化状态,每个单层可 以独立运行。

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